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[期刊论文] 作者：李登希,,
来源：企业技术开发 年份：2011
电子产品在制造系统常用的检验方法主要有ICT，信号回环测试，功能测试。上述各种的测试方法各有优缺点．适合不同的制造规模的生产企业采用。文章介绍了将ICT、信号回环测试、功能......
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