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[会议论文] 作者：王文焱,李致请,何玉田,郑迅燕,
来源：中国金属学会第十三届分析测试学术年会——冶金及材料分析测试学术报告会 年份：2006
本文研究了采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES法),同时测定了彩涂板前处理表调转化层中Ti、Ni元素及钝化膜中Cr元素的含量,从而求得表调转化层及钝化膜厚度.该方法准确...
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