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[学位论文] 作者：杨年宏,,
来源： 年份：2011
随着超大规模集成电路集成度和复杂度的提高,尤其是互补金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor,CMOS)器件进入纳米时代,测试时产生的功耗大大超过系统正...
[期刊论文] 作者：杨年宏,陈小佑,,
来源：湖南城市学院学报(自然科学版) 年份：2006
基于箱形薄壁粱的实际构造情况和用于薄壁构件约束扭转计算的YMANCK第二理论，对工程结构中常用的单箱双室薄壁箱形粱截面的扭转中心位置进行了理论推导，并得到了扭转中心的显式......
[期刊论文] 作者：喻小明, 潘军, 杨年宏, 李彬,,
来源：矿冶工程 年份：2006
采用有限元数值模拟的方法计算大直径钻孔灌注桩的极限承载力,对桩底沉渣厚度改变、桩周泥皮厚度变化对单桩极限承载力的影响进行了计算分析,指出了控制沉渣、泥皮厚度的重要...
[报纸论文] 作者：市住建局(市人防办) 杨年宏,
来源：益阳日报 年份：2019
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[期刊论文] 作者：方芳,王伟,王杰,陈田,杨年宏,,
来源：合肥工业大学学报(自然科学版) 年份：2009
随着CMOS器件进入纳米时代,测试时产生的功耗大大超过系统正常工作时的功耗,测试功耗已成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的...
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