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[期刊论文] 作者:杨菊瑾,刘义凯,, 来源:微处理机 年份:2013
集成电路受空间粒子辐射容易产生软故障.通过三模冗余、时间冗余和错误检测与纠正等电路结构设计加固方法可对其进行改善,有效增强其抗单粒子翻转的性能,有效防止因辐射产生...
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