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[学位论文] 作者：洪逸婧,
来源：厦门大学 年份：2020
随着电子系统电路结构的复杂程度和元件集成度的持续增加,集成电路（Integrated Circuit,缩写IC）的功能亦随之日益强大,IC内部结构也日益复杂,IC的测试难度和测试成本亦随之呈现指数增长,测试成本在IC设计和生产总成本中所占的比例不断攀升（大致总成本的35%～55%）。为......
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