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[学位论文] 作者：潘照华,
来源：北京工业大学 年份：2011
工艺特征尺寸的日益减小使得集成电路在集成度和性能方面不断获得提高,但与此同时,电路功耗密度也急剧上升。功耗不但直接影响芯片的封装形式与成本,而且过高的功耗将导致芯...
[期刊论文] 作者：潘照华,万培元,林平分,,
来源：半导体技术 年份：2011
集成电路的快速发展,迫切地需要快速、高效、低成本且具有可重复性的测试方案,这也成为可测性设计的发展方向。此次设计基于一款电力线通信芯片,数字部分采用传统常用的数字...
[期刊论文] 作者：张阳,万培元,潘照华,林平分,,
来源：中国集成电路 年份：2013
扫描链测试,作为一种简单、高效的可测性设计方法,已经广泛应用于集成电路设计中。该方法可以有效地检测出电路制造过程中的缺陷和故障,从而降低芯片的测试成本。但是随着扫...
[期刊论文] 作者：宁波市府课题组,林崇建,杜铁奇,薛晓伟,潘照华,屠德明,张骥,
来源：宁波经济：财经视点 年份：1998
改革开放二十年来,宁波个体、私营经济由少到多、由小到大、由弱到强,历经风吹雨打,显示了强大的生命力,但尚存在着诸多不利于其发展的制约因素。我们必须全面深刻理解...
[期刊论文] 作者：宁波市府课题组,林崇建,杜铁奇,薛晓伟,潘照华,屠德明,张骥青,,
来源：宁波经济 年份：1998
改革开放二十年来,宁波个体、私营经济由少到多、由小到大、由弱到强,历经风吹雨打,显示了强大的生命力,但尚存在着诸多不利于其发展的制约因素。我们必须全面深刻理解党的...
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