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[期刊论文] 作者:王晶霞,王品英,沈源生,,
来源:电子与封装 年份:2011
晶体管的二次击穿线是构成其安全工作区(SOA)的重要曲线,作者对该问题进行了多年的探讨和实验。文章详尽地论述了二次击穿的机理是由于电流或电压应力所引起的破坏性结果。简要......
[期刊论文] 作者:王品英,王晶霞,沈源生,缪国平,,
来源:电子与封装 年份:2012
特征频率fT是数字晶体管的一项重要参数。文章叙述了普通晶体管特征频率fT的测试原理,并从模拟数字晶体管的等效电路着手,通过理论推导,深入分析了fT产生测试误差甚至无法测...
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