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[期刊论文] 作者：王颂宇 杨少明,
来源：中国科技博览 年份：2015
[摘 要]本文采用电子散斑干涉技术对芯片进行检测，并使用现场可编程门阵列（FPGA）对电子散斑实验进行环境温度的自动控制，能够高速采集数据，具有实时性特点，能够更好的控制循环检测温度，减小测量误差，更加准确的推算芯片在不同环境下的寿命。 [关键词]FPGA技术可靠性E......
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