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[期刊论文] 作者：盖天洋, 粟雅娟, 陈颖, 韦亚一,,
来源：微纳电子技术 年份：2004
基于机器学习的坏点检测技术已经成为光刻坏点检测的重要研究方向,在新技术节点开发与物理设计验证中具有重要意义。按照基于机器学习的光刻坏点检测技术的流程,依次介绍了特...
[期刊论文] 作者：屈通,盖天洋,王书涵,苏晓菁,粟雅娟,韦亚一,
来源：微电子学与计算机 年份：2021
超大规模集成电路(VLSI)中的详细布线是物理设计中一个重要且具有挑战性的环节.在这一阶段,所有导线的路径都会被确定下来,布线的优劣直接关系到芯片的面积和性能,路径搜索是布线中最为耗时的步骤之一.本文介绍了基于网格的布线模型,将布线问题抽象为一个图搜索......
[期刊论文] 作者：郭成,粟雅娟,陈睿,董立松,张利斌,陈颖,盖天洋,韦亚一,
来源：微纳电子技术 年份：2020
定向自组装(DSA)是一种新型的光刻分辨率增强技术,为了探究制约DSA应用于大规模集成电路制造的因素,采用仿真手段评估了DSA工艺条件以及不同版图设计对DSA的影响.基于Cahn-Hi...
[期刊论文] 作者：杨荣强,钱雅倩,粟雅娟,王颖倩,陈睿,陈颖,盖天洋,郭成,屈通,,
来源：微电子学 年份：2019
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[期刊论文] 作者：王英菲,张青淳,苏晓菁,董立松,陈睿,张利斌,盖天洋,粟雅娟,韦亚一,叶甜春,
来源：微电子学 年份：2020
在28 nm及以下工艺节点,版图邻近效应已经成为一个重要问题.文章概述了版图邻近效应的研究及应用进展,介绍了Poly-gate、High-k/Metal-gate、FinFET等不同工艺下的6种版图邻...
[期刊论文] 作者：杨双,石新新,伍宏,粟雅娟,董立松,陈睿,张利斌,苏晓菁,陈颖,盖天洋,郭成,屈通,韦亚一,
来源：微电子学 年份：2020
基于先进逻辑CMOS工艺平台,构建了集成电路热耦合模型,为后端金属线电迁移预测提供更精确的温度变化和分布信息.在建模过程中,为了提高建模和仿真效率,对金属线网络和晶体管...
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