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[期刊论文] 作者：管礼志,陈杰,孟凡维,刘俊豪,
来源：数字通信世界 年份：2015
研究了京东方B3工厂建厂至今主要尺寸静电不良,分析比较不同尺寸由于静电保护能力的差异与工艺生产中受静电影响的几率的关系,通过大量的数据,案例来分析TFT ESD设计W/L,膜层...
[期刊论文] 作者：陈杰,管礼志,孟凡维,高荣荣,刘俊豪,
来源：数字通信世界 年份：2015
本文研究了TFT-LCD显示器制造工艺过程中边角Zara Particle不良产生机理及其改善措施.通过拆屏后扫描电子显微镜(SEM)观察分析和实验模拟,发现此种不良为边角附近柱状隔垫物(...
[期刊论文] 作者：江桥, 孟凡维, 管礼志, 陈维诚, 陈杰, 车晓盼, 左爱翠,,
来源：电子世界 年份：2016
...
[期刊论文] 作者：江桥,孟凡维,管礼志,陈维诚,陈杰,车晓盼,左爱翠,郭红光,,
来源：电子世界 年份：2016
研究了京东方小尺寸出现的一系列高低温测试过程中出现的重力Mura和Bubble问题,主要为Photo Spacer（PS）存在较大波动,导致LC Margin评价出现偏差,或者LC Margin评价后,实际量产...
[期刊论文] 作者：江桥,孟凡维,管礼志,陈维诚,陈杰,车晓盼,左爱翠,郭红光,刘俊豪,,
来源：电子世界 年份：2016
研究了京东方小尺寸出现的一系列高低温测试过程中出现的重力Mura和Bubble问题,主要为Photo Spacer(PS)存在较大波动,导致LC Margin评价出现偏差,或者LC Margin评价后,实际量...
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