搜索筛选:
搜索耗时0.0481秒,为你在为你在61,042,058篇论文里面共找到 2 篇相符的论文内容
发布年度:
[学位论文] 作者：纪长志,,
来源：电子科技大学 年份：2015
自然界中常见的静电放电(ElectroStatic Discharge,ESD)现象已经成为了造成芯片失效的一个重要原因。随着工艺制程的不断进步,ESD现象也越来越严重,造成的经济损失也变得更加...
[期刊论文] 作者：黄晓宗, 刘志伟, 纪长志, 刘凡, 刘继芝, 成辉,,
来源：微电子学 年份：2018
基于0.35μm CMOS混合信号工艺,实现了一种用于ESD保护的MDDSCR器件。通过堆叠MDDSCR单元来调整维持电压,结合TLP测试结果,说明了关键尺寸和不同的衬底连接方式对器件特性的...
相关搜索：
