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[期刊论文] 作者：宋嘉良, 文尚胜, 马丙戌, 符民, 胡捷频, 彭星, 方方,
来源：发光学报 年份：2004
针对LED样品检测中的样品短路失效、LED光源黑化、光通量下降和芯片表面通孔异常现象,采用金相切片、机械微操、静电测试等方式结合扫描电镜和能谱仪(EDS)等表征手段对失效机...
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