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[期刊论文] 作者：范春帅,张扬,彭丽君,
来源：电子世界 年份：2019
在进行大功率MOSFET器件的IGSS参数测试时,时常会出现测试值随着采样延迟时间的增加而减小的情况,该种情况极易造成合格器件的误判。本文通过对MOSFET结构的分析,从原理上解...
[期刊论文] 作者：范春帅, 陈林, 张文辉, 李睿,,
来源：电子质量 年份：2019
超声扫描作为一种无损检测技术,已经被广泛应用于塑封器件封装结构缺陷的检测方面。但是部分塑封器件内部存在的一些异常结构,会直接影响检测人员对超声扫描结果的判断,对于...
[期刊论文] 作者：郭祥,范春帅,赵雪,王继红,杨晨,王一,
来源：贵州科学 年份：2020
以射频功率放大芯片为研究对象,分别进行了基于人体静电释放模式以及机器静电释放模式的静电放电测试。实验结果表明芯片对两种放电模式的耐压分别为+1750 V和+150 V,且均优...
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