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[期刊论文] 作者：许金铃,陈城钊,詹镇业,陈佳仪,王久川,曾锦城,陈景乐,
来源：材料研究与应用 年份：2019
采用离子注入和快速热退火处理获得n型锗材料,利用拉曼(Raman)光谱、二次离子质谱(SIMS)、扩展电阻测试(SRP)和四探针等分析方法,分别研究了样品热退火前后的微结构和电学性...
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