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[期刊论文] 作者：谷高磊,严志军,朱新河,程东,,
来源：润滑与密封 年份：2012
润滑膜厚度的测量是开展纳米量级薄膜润滑状态研究的关键问题。利用光干涉法相对光强原理研制出一种纳米级润滑膜厚度测量仪，在低速低载荷条件下对点接触纯滑动润滑接触中心区......
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