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[会议论文] 作者：陈文波,迟玉峰,郑海辉,吕光烈,
来源：第十一届全国X射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会 年份：2012
本研究采用Ufer处理乱层结构的方法，用全谱拟合方法解决药用蒙脱石中杂质相含量检测问题。研究表明，Ufer的方法虽然原理难懂，实际应用计算时间较长，分析蒙脱石这类乱层状结构......
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