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[期刊论文] 作者:迟鹏 彭建 谷付星,
来源:光学仪器 年份:2019
摘要:在对微纳材料光学特性表征中,需要获得分辨率更高的波长和强度的荧光图像。普通的显微镜无法满足测试的要求,因此将普通的成像显微镜、光谱仪以及纳米移动台组成激光扫描显微镜成像系统,并利用LabVIE开发了一套完整的集二维扫描采集与信号图像处理一体的系统上......
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