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[期刊论文] 作者：邓永孝,
来源：航天工艺 年份：1996
本文主要叙述半导体器件在使用过程中遭受“过应力”损伤的主要原因和防洪措施。...
[期刊论文] 作者：邓永孝,韩大星,
来源：微电子学与计算机 年份：1975
可靠性工作不仅是评价器件的可靠性水平,更重要的是改进可靠性。因此,对失效器件必须进行详细的分析,找出失效原因,反映给器件的设计和制造者,共同研究出针对性的纠正措...
[期刊论文] 作者：苗保堂, 邓永孝,,
来源：质量与可靠性 年份：1987
第三讲 失效分析技术 失效分析技术是收集失效证据,进一步展现失效特征,鉴别失效模式和研究失效机理的有力手段。在失效分析中恰当选择、灵活运用这些技术是很重要的。...
[期刊论文] 作者：邓永孝,苗保堂,
来源：质量与可靠性 年份：1987
一、可靠性设计的重要性 半导体器件的失效原因来自于设计缺陷、工艺缺陷和使用不当。设计是可靠性的基础,良好的设计是保证可靠性的前提。器件的可靠性是在设计阶段形...
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