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[学位论文] 作者：邵康鹏,,
来源：浙江大学 年份：2013
随着集成电路产业进入“后摩尔”时代,集成电路的制造技术变得异常复杂,在生产过程中保证芯片的成品率面临着极大的挑战。在芯片制造的过程中,为了能够更好地进行成品率控制,...
[期刊论文] 作者：邵康鹏,史峥,张培勇,,
来源：机电工程 年份：2013
为了缓解由于可寻址测试芯片自动化设计方法的缺失所带来的设计效率低下、设计稳定性不足等问题，针对可寻址测试芯片设计过程中的测试结构分配环节，将线性规划应用到测试结构的......
[期刊论文] 作者：胡龙跃,史峥,刘得金,邵康鹏,,
来源：计算机工程与应用 年份：2013
对生成测试芯片效率进行研究，提出了一种采用版图编辑器作图和批量参数化建模设计方法。缩短了设计周期，降低了设计难度。依据该方法，开发了一套针对工艺开发包的测试芯片，实验结......
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