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[期刊论文] 作者：刘然,张若寒,马明朗,李鑫,郑诗琼,王勇,
来源：电子元器件与信息技术 年份：2021
支持高速JESD204B接口的产品已大量面世,为满足JESD204B接口芯片量产测试的需求,本文就JESD204B接口芯片开展测试技术研究,提出了一种12.5Gbps JESD204B接口芯片的量产测试方法.该方法基于自动测试设备(ATE,Automated Test Equipment)自主设计了高速串行接口芯......
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