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[期刊论文] 作者：李正兵,胡德安,陈益平,程东海,何凯,郭义乐,
来源：焊接学报 年份：2020
针对SnBi/Cu接头在服役过程中组织和性能变差的问题,通过用扫描电镜(SEM)观察时效前后Sn35Bi-1Fe/Cu接头组织,结合EDS和XRD分析,分析接头组织变化;利用万能试验机,测试接头力...
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