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[期刊论文] 作者：王远昌,都诚,都世民,
来源：系统工程与电子技术 年份：2001
评述信息电子系统的电磁泄漏与耦合机理,及其在恶劣电磁环境中可能带来的危害.讨论了抑制电磁泄漏辐射与传导发射的方法以及测试的相关问题.最后展望了电磁泄漏防护的发展趋...
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