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[期刊论文] 作者：陶鵾,杨汝良,
来源：电子与信息学报 年份：2003
该文基于相位展开中残余点的概念,深入研究了残余点发生概率与配准精度间的内在联系,根据所得出的模型,提出以残余点的数目作为衡量不同配准结果的准则,挑选出最佳的条纹图,...
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