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[期刊论文] 作者：于宝堃，石晟屹，马望男，李寅博，刘曼迪，吴丹,
来源：电脑知识与技术 年份：2021
摘要：研制了一种基于阈值法的数字集成电路测试仪，用于检测74LS10、74LS138等74LS系列芯片的性能。该测试仪采用两片STM8型微控制器作为核心单元，通过测试向量集来判断芯片的性能，测试结果输出到LCD显示屏中。实际测试结果表明：该测试仪操作灵活，测试速度快，能准确检测......
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