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[期刊论文] 作者：孙岩,高昌垒,李少青,张民选,
来源：国防科技大学学报 年份：2009
随着工艺尺寸的逐渐缩小，集成电路中由放射性粒子引起的软错误不断增加，在设计时必须考虑由软错误引起的可靠性问题。使用软错误免疫寄存器对电路敏感部分选择性加固是降低逻辑......
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