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[学位论文] 作者：鲁宜彬,
来源：哈尔滨工业大学 年份：2007
集成电路(Integrated Circuit，IC)产品设计竞争正日趋激烈，各厂商、公司都在为如何提高设计效率，确保设计正确性，不遗余力地进行着努力。对于设计复杂的芯片，验证对最终设计的正确......
[期刊论文] 作者：鲁宜彬,张钦宇,,
来源：微计算机信息 年份：2008
随着芯片设计的飞速发展，功能验证已经成为整个设计过程中的主要瓶颈。介绍一种高效高质量的功能验证方法——受限随机矢量生成的功能验证方法。研究该方法在设计模块功能验证......
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