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[学位论文] 作者:鲁智德,, 来源:北京交通大学 年份:2019
随着芯片制程趋向于细微化和集成化,化学机械抛光(Chemical mechanical planarization,CMP)成为了集成电路制造不可或缺的工艺之一。它是目前集成电路制造中实现全局平坦化的主要工艺。然而特征尺寸的不断减小,集成度的不断提高对化学机械抛光工艺提出了更高的......
[期刊论文] 作者:张朝辉,耿旭,李梓万,王智源,鲁智德, 来源:表面技术 年份:2020
化学机械抛光是获取高表面平整度的有效关键技术,获得了广泛的研究和应用,其表面材料的去除作用依赖于所处的真实接触状态。归纳了抛光垫/晶圆相互作用的形式,即相互滑过而没...
[期刊论文] 作者:张朝辉, 耿旭, 李梓万, 王智源, 鲁智德, 来源:表面技术 年份:2019
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