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Measurement of residual stress in a multi-layer semiconductor heterostructure by micro-Raman spectro
[期刊论文] 作者：Wei Qiu,Cui-Li Cheng,Ren-Rong,
来源：力学学报：英文版 年份：2016
基于 Si 的多层的结构广泛地在当前的微电子学被使用。在他们的准备期间，一些不同类的剩余应力被导致，导致在接口错配和表面精力和平导致结构失败之间的竞争。这个工作在多层的......
Measurement of residual stress in a multi-layer semiconductor heterostructure by micro-Raman spectro
[期刊论文] 作者：Wei Qiu,Cui-Li Cheng,Ren-Rong,
来源：黑龙江科技学院学报 年份：2016
为探究吕家坨井田地质构造格局,根据钻孔勘探资料,采用分形理论和趋势面分析方法,研究了井田7...
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