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[期刊论文] 作者：Dave Bonnett,
来源：电子质量 年份：2002
研制边界扫描原先是为了检验IC引线与PCB连接轨迹,现在它已被用于支持芯片调试、设备编程、混合信号测试和现场服务....
[期刊论文] 作者：Dave Johnson,,
来源：微电脑世界 年份：2011
对大多数人来说,使用数码相机拍照时如果想获得较小景深,一般是使用"光圈优先"模式,再配上大光圈(比如F2.8)。通过使用这种技术,可以让背景虚化,从而大幅突出所拍摄的对象。...
[期刊论文] 作者：Todd Buley,Periya Gopalan,Dave Ventura,,
来源：电子工业专用设备 年份：2006
半导体器件上铜层化学机械抛光(CMP)的第一道工序一般需要使用一块硬抛光垫,在磨去阻挡层的工序中要用到软垫。在磨去阻挡层和电介质材料时,要把各家供应商的各种抛光液与这...
[期刊论文] 作者：荣文戈, 熊璋, COOPER Dave, 李超, 盛浩,,
来源：中国通信 年份：2004
Urban development is becoming increasingly reliant on effective use of intelligent services.In the process of providing better services to all citizens and impr...
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