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[期刊论文] 作者：Eric Jacobsen,Jeff Baum,
来源：电子产品世界 年份：1997
传感器处于所有测试系统的最前端,然而,在今天的传感器系统 中,传感器器件本身的非理想性成为限制整个系统性能的薄弱环节。例如,对压阻式传感器来说,器件之间在偏移电...
[期刊论文] 作者：Eric Jacobsen,Jeff Baum,杜尚,
来源：电子产品世界 年份：1997
传感器处于所有测试系统的最前端,然而,在今天的传感器系统 中,传感器器件本身的非理想性成为限制整个系统性能的薄弱环节。例如,对压阻式传感器来说,器件之间在偏移电压、...
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