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[期刊论文] 作者：Georg Ktzle,
来源：机电信息 年份：1998
生产实践中经常会提出在极端过程条件下必须测量充满状况、密度或分界层的问题,在这种情况时非接触式的辐射测量可作为理想的解决方案。选择这种测试原理的其他准则是它具有...
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