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[期刊论文] 作者：How-Siang Yap Cecelia Ow Mouni,
来源：今日电子 年份：2008
射频工程师通常使用矢量网络分析仪（VNA）测量射频元器件的S参数，以便对其特性进行表征并进行后续设计。他们在测量过程中遇到的一个问题是，这些元器件往往是表贴封装的，不能直接与......
[期刊论文] 作者：How-Siang Yap,Cecelia Ow,Mounir,
来源：今日电子 年份：2020
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[期刊论文] 作者：How-Siang Yap,Cecelia Ow,Mounir Adada,,
来源：今日电子 年份：2008
简介射频工程师通常使用矢量网络分析仪(VNA)测量射频元器件的S参数,以便对其特性进行表征并进行后续设计。...
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