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[期刊论文] 作者：J.M.Hu,D.Barker,李世明,
来源：电子产品可靠性与环境试验 年份：1995
就正常使用条件下出现的某些主要失效机理而论,加速寿命试验技术提供了一种研究电子元器件可靠性的简便方法.淡而,加速试验经常是在不知道失效机理,以及不保证被试验所加速的...
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