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[期刊论文] 作者：Hye Dong Kim,Jae Kyeong Jeong,,
来源：现代显示 年份：2009
综述了目前大尺寸AMOLED显示的技术挑战,尤其是背板技术。然后论述了如何采用氧化物TFT新技术与LTPS和a-Si TFT的优势相结合制造大尺寸背板的最佳方案。通过对比传统准分子激...
[期刊论文] 作者：Hye Dong Kim,Jae Kyeong Jeong,,
来源：现代显示 年份：2004
综述了目前大尺寸AMOLED显示的技术挑战,尤其是背板技术.然后论述了如何采用氧化物TFT新技术与LTPS和a-Si TFT的优势相结合制造大尺寸背板的最佳方案.通过对比传统准分子激光...
Evaluation of Performance and Reliability of p-type Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transisto
[会议论文] 作者：Yoon-Uk Heo,Tae-Young Jang,Donghyup Kim,Jae Kyeong Jeong,Changhwan Choi,Rino Choi,
来源：2011年第三届微电子及等离子体技术国际会议 年份：2011
The scaling down of metal-oxide-semiconductor field effect transistors (MOSFETs) through successful gate-last integration of high-k dielectric and metal electrodes in gate stacks for high-performance...
[期刊论文] 作者：Hye Dong Kim,Jae Kyeong Jeong,Hyun-Joong Chung,Yeon-Gon Mo,石琳,刘珊珊,,
来源：现代显示 年份：2009
综述了目前大尺寸AMOLED显示的技术挑战,尤其是背板技术。然后论述了如何采用氧化物TFT新技术与LTPS和a-Si TFT的优势相结合制造大尺寸背板的最佳方案。通过对比传统准分子激...
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