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[期刊论文] 作者：JoeKelly,ArianaSalagianis,潘其涛,
来源：半导体技术 年份：2004
本文的主旨是启发读者去考虑电子芯片集成度提高对终测或生产测试的影响。特别的，射频(RF)芯片测试方法的主要转移变得越来越可行。一些关于生产测试的关键项目将在这里进行讨......
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