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[期刊论文] 作者：Huang Zhengfeng,Liang Huaguo,
来源：城市道桥与防洪 年份：2009
该文从挂篮荷载计算、施工流程、支座及临时固结施工、挂篮安装及试验、合拢段施工、模板制作安装、钢筋安装、混凝土的浇筑及养生、测量监控等方面人手,介绍了S226海滨大桥...
[期刊论文] 作者：Yan Luming,Liang Huaguo,Huang,
来源：电子科学学刊：英文版 年份：2013
In nanoscale technology, transistor aging is one of the most critical problems that impact on the reliability of circuits. Aging sensor is a good online way to...
[期刊论文] 作者：Xu Hui,Liang Huaguo,Huang Zhen,
来源：电子科学学刊：英文版 年份：2013
Transistor aging has become the most important factor affecting the integrated circuit reliability.There is detection error caused by stacking effect in the sta...
[期刊论文] 作者：Xu Hui,Liang Huaguo,Huang Zhen,
来源：电子科学学刊（英文版） 年份：2004
...
[期刊论文] 作者：Yan Luming,Liang Huaguo,Huang Zhengfeng,Liu Yanbin,,
来源：Journal of Electronics(China) 年份：2013
In nanoscale technology, transistor aging is one of the most critical problems that impact on the reliability of circuits. Aging sensor is a good online way to...
[期刊论文] 作者：Liang Huaguo,Xu Hui,Huang Zhengfeng,Yi Maoxiang,
来源：城市道桥与防洪 年份：2014
该文从挂篮荷载计算、施工流程、支座及临时固结施工、挂篮安装及试验、合拢段施工、模板制作安装、钢筋安装、混凝土的浇筑及养生、测量监控等方面人手,介绍了S226海滨大桥...
[期刊论文] 作者：LIANG Huaguo,CHANG Hao,LI Yang,WANG Wei,CHEN Tian,XU Hui,,
来源：Chinese Journal of Electronics 年份：2015
One notable difference between 3D test flow and 2D test flow mainly lies in the mid-bond test, in which the stacking yield can be further enhanced through optim...
[会议论文] 作者：Shi Dongxia,史冬霞,Huang Zhengfeng,黄正峰,Yan Luming,严鲁明,Liang Huaguo,梁华国,
来源：2012年中国仪器仪表学术、产业大会 年份：2012
随着集成电路工艺尺寸的不断缩小,辐射引起的软错误已经成为影响芯片可靠性的重要因素之一.为了减轻辐射环境中D触发器受单粒子翻转的影响,本文实现了一种低开销的加固触发器(LHFF).该结构是基于时间延时的异构双模冗余设计,针对单粒子翻转进行防护.Spice模拟结......
[会议论文] 作者：Zhang Ruixin,张睿鑫,Cui Wenjie,崔文杰,Sun Jizheng,孙继正,Yi Maoxiang,易茂祥,Liang Huaguo,梁华国,
来源：2012年中国仪器仪表学术、产业大会 年份：2012
本文提出了一种智能建筑LCB总线，并在其基础上开发一套高性能建筑电气智能监控系统。系统由LCB总线模块局域控制网络、通信网关模块和上位机监控平台构成。总线模块配置电气监控标准I/O接口，并通过局域控制总线互联，支持实时无主数据通信。监控平台采用面向对象技......
[会议论文] 作者：Xu Hui,徐辉,Liang Huaguo,Huang Zhenfeng,梁华国,黄正峰,Li Yang,Yan Luming,Chan Hao,李扬,严鲁明,常郝,
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路，而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪声容限并增大了其传输时延。本文提出了带有补偿晶体管的多米诺或门结构，通......
[会议论文] 作者：Xu Hui,徐辉,Liang Huaguo,梁华国,Huang Zhenfeng,黄正峰,Li Yang,李扬,Yan Luming,严鲁明,Chan Hao,常郝,
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路，而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪声容限并增大了其传输时延。本文提出了带有补偿晶体管的多米诺或门结构，通过开启补偿电路，使电路在老化以后仍然能够保持其抗干扰能力和传输延时，有效的延长了多米诺电......
[会议论文] 作者：Liang Huaguo,梁华国,Li Yang,李扬,Li Xin,李鑫,Yi Maoxiang,易茂祥,Wang Wei,王伟,Chang Hao,常郝,Li Songkun,李松坤,
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
超大规模集成电路半导体工艺尺寸的不断减小使测试的复杂度和测试成本不断提升.测试数据压缩率和测试应用时间是降低测试成本的关键因素.内建自测试作为一种可测性设计方...
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