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基于FPGA数字设计的电磁辐射探索
[期刊论文] 作者：Van Toan NGUYEN,Minh Tung DAM,, 来源：中南大学学报:英文版 年份：2019
随着半导体技术的不断萎缩,电路的速度、集成密度和I/O接口的数量显著增加,因此,电磁辐射(EME)成为数字系统设计中的一个关键问题。电子设备必须满足电磁兼容性(EMC)的要求,...
基于FPGA数字设计的电磁辐射探索
[期刊论文] 作者：Van Toan NGUYEN,Minh Tung DAM,Jeong-Gun LEE,, 来源：中南大学学报（英文版） 年份：2019
随着半导体技术的不断萎缩,电路的速度、集成密度和I/O接口的数量显著增加,因此,电磁辐射(EME)成为数字系统设计中的一个关键问题.电子设备必须满足电磁兼容性(EMC)的要求,以...
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