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[期刊论文] 作者：R.Swanepoel,钟国林,,
来源：国外计量 年份：1987
一、前言厚度为1μm的薄膜在光电子学领域是一种被广泛研究的对象。这类薄膜的厚度是一个重要的参数,它能够由膜屑的透射光谱用非破坏方法确定。由透射光谱还可以得到折射率...
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