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[期刊论文] 作者：Roman.D,杨静玲,
来源：电子测量技术 年份：1993
今年的VLSI测试讨论会在美国东部城市新泽西举行。这次讨论会是围绕“高水平的测试质量是否就意味着高造价的测试设备”这个主题而展开的。参加这次讨论会的都是ATE的使用者...
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