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[期刊论文] 作者：Tan Enmin,Song Shengdong,Shi Wenkang,
来源：高技术通讯（英文版） 年份：2007
A test pattem generator(TPG)which can highly reduce the peak power consumption during built-in self-test(BisT)application is proposed.The pmposed TPG,called Lpp...
[期刊论文] 作者：谈恩民,Song Shengdong,Shi Wenkang,
来源：高技术通讯：英文版 年份：2007
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