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[期刊论文] 作者：Tae Yeon Oh,
来源：软件和集成电路 年份：2020
多种来源的漏电流和寄生电容会引起DRAM的故障,在DRAM开发期间,工程师需仔细评估这些故障模式,当然也应该考虑工艺变化对漏电流和寄生电容的影响。从20n m技术节点开始,漏电...
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