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[期刊论文] 作者：Su-YuMA,Chuan-HeMA,Xiao-ShuangLU,Guo-ShuaiLI,LinSUN,YeCHEN,Fang-YuYUE,Jun-HaoCHU,
来源：红外与毫米波学报 年份：2020
利用吸收、光电流和光致发光等光谱表征并结合理论报道，分析了缺陷态丰富的铜锌锡硫半导体材料的光学带隙、带尾态和深浅杂质能级，揭示了...
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