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[期刊论文] 作者：Xiao-Yu Pan,Hong-Xia Guo,Yin-Hong Luo,Feng-Qi Zhang,Li-Li Ding,Jia-Nan Wei,Wen Zhao,
来源：中国物理B（英文版） 年份：2017
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[期刊论文] 作者：Jia-Nan Wei,Hong-Xia Guo,Feng-Qi Zhang,Yin-Hong Luo,Li-Li Ding,Xiao-Yu Pan,Yang Zhang,Yu-Hui Liu,
来源：中国物理B（英文版） 年份：2017
The impact of ionizing radiation effect on single event upset (SEU) sensitivity of ferroelectric random access memory (FRAM) is studied in this work.The test sp...
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