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Ⅳ族化合物相关论文

半导体C-V测量基础

通用测试rn电容-电压(C-V)测试广泛用于测量半导体参数,尤其是M0sCAP和MOSFET结构.此外,利用C-V测昔还可以对其他类型的半导体器件......

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半导体器件测量基础光电二极管半导体参数 MOSFET结构 Ⅳ族化合物特征分析碳纳米管光伏电池测试 MEMS器件显示器其他类体管双极工艺

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