两步退化机制相关硕士博士期刊学术论文 - 信丰网

两步退化机制相关论文

一种用于提取LDD结构n—MOSFET热载流子应力下界面陷阱产生的改进方法

提出了一种新的基于电荷泵技术和直流电流法的改进方法，用于提取LDD n—MOSFET沟道区与漏区的界面陷阱产生．这种方法对于初始样品以......

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热载流子应力 LDD结构超薄栅氧化层两步退化机制 hotcarrier stressLDDultrathin gate oxidetwo step degr

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