随着CMOS器件特征尺寸的不断缩小，传统的CMOS器件对新材料、新工艺和新结构等诸多技术提出了新的要求，尤其是进入45nm技术节点后，高k/......

在空间或其他辐射环境下，集成电路会受到电离辐射的影响，进而导致电路出现性能退化、信息丢失严重时甚至会出现功能失效等现象。而绝......

空间辐射环境中的带电粒子容易诱发CMOS器件发生单粒子锁定现象。为了对暗物质粒子卫星硅探测器星用关键器件VA140进行单粒子锁定......

ue＊M＃’＃dkB4＃＃8＃”专利申请号:00109“7公开号:1278062申请日:00.06.23公开日:00.12.27申请人地址:（100084川C京市海淀区清华园申请人:清......