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本文报导了低能高电荷态Arq+(q=12,13)离子诱发的钼L壳层X射线强度随入射粒子能量的变化趋势,研究表明当入射粒子能量高于220 keV......
本文报导了低能高电荷态Ar^q+(q=12,13)离子诱发的钼L壳层x射线强度随入射粒子能量的变化趋势,研究表明当入射粒子能量高于220keV时,钼L......