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半数失效时间相关论文

一种电子元器件高加速寿命试验指标的探讨

高加速寿命试验用于识别设计缺陷和制造问题,提高设计强度极限,但不能评估产品的可靠性。该文在分析了产品可靠性可以通过相对性评......

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可靠性高加速寿命试验半数失效时间 reliability HALT（Highly accelerated life test） median failu

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