单事件翻转相关论文
在设计高可靠性系统时,无论是陆地、航空或太空应用,设计人员都必须非常小心地选择器件技术。如果选择不当会导致FIT(FailuresInTi......
容错设计技术是提高计算系统可信性的重要措施。高能粒子辐射引起的软错误曾被认为是影响宇航电子用品可靠性的首要因素。随着集成......
美国空军标准1750A ISA的应用,在以后十年,将统治航天器数据处理技术。它将使更多的日臻完善的软件开发工具运用在航天器数据处理......
太空环境中含有大量的高能粒子,这些高能粒子的存在将对航天器的正常工作构成严重的威胁。当航天器中的半导体器件受到粒子的轰击......
文中给出一种容软错误高可靠微控制器FT51．首先它具有基于异步电路的时空三模冗余结构，采用此结构可以对时序逻辑单事件翻转（SEU）和组......
针对太空环境下粒子辐射引发的软错误已经成为芯片失效的主导原因，提出一种容软错误锁存器结构——DIL—SET。该结构在内部构建基于......
随着工艺尺寸的逐渐缩小，集成电路中由放射性粒子引起的软错误不断增加，在设计时必须考虑由软错误引起的可靠性问题。使用软错误免疫......
