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可编程逻辑的阵列相关论文
一种用于可编程逻辑的阵列的单粒子翻转试验系统设计研究
单粒子翻转(SEU)试验是测试FPGA芯片抗单粒子翻转性能的重要方法.提出了一种用于测试FPGA芯片抗单粒子翻转性能的试验系统;该系统通......
期刊
单粒子翻转
可编程逻辑的阵列
试验系统
single event upset FPGA (field programmable gate array) tes
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